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更新日期：2026-06-22
簡(jiǎn)要描述：
日本富士fujiwork超薄薄膜測(cè)厚儀HKT-1216消除測(cè)量者的偏差舒適，準(zhǔn)確地測(cè)量1μm或更小的超薄膜
| 品牌 | 其他品牌 | 類型 | 數(shù)字式 |
|---|---|---|---|
| 測(cè)量范圍 | 1 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
日本富士fujiwork超薄薄膜測(cè)厚儀HKT-1216
消除測(cè)量者的偏差舒適，準(zhǔn)確地測(cè)量1μm或更小的超薄膜
* 1線性度是
顯示是否可以與測(cè)量頭的位移量成比例顯示的比率。 位移量
為±0.2％
/ 100μm±0.2μm
位移量/ 500μm±1μm
位移量/ 1000μm±2μm
（測(cè)量誤差因位移量而異）
重復(fù)性/ 0.05μm
（使用升降器重復(fù)上下觸控筆）
測(cè)量分辨率/ 0.01μm
線性度/±0.2％* 1
可以改變測(cè)量壓力（z小測(cè)量壓力0.14N）
米/ R30超硬球面
測(cè)量范圍/ 200μm * 2
測(cè)量架/測(cè)量表面Φ50陶瓷制成
輸出/模擬和RS232C
電源/ AC100V
選件/
?軟件?數(shù)據(jù)打印機(jī)?更換筆
·真空臺(tái)·外部置零開
* 2根據(jù)被測(cè)物體的材質(zhì)，測(cè)量范圍可能會(huì)改變。
*注意* HKT-1240已因放大器單元的停產(chǎn)而停產(chǎn)。HKT-1216將替代HKT-1240。
